マルチストローブによるソース同期I/Fの試験
データ転送を高速に行う最近のICは、外部インターフェースとして、ソースシンクロナス方式を採用している。このインターフェースをICの自動試験装置(ATE)によって正確に試験するには、タイミングマージンの減少に対処しなければならない。本稿では、その対処法としてマルチストローブを用いる手法を紹介する。
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「品質工学」のススメ
研究/開発、あるいは生産の現場では、機能、品質、コストにかかわる技術活動において、意思決定のスピードとその確かさに対する要求がより一層高まっている。そして、方向性の決定に際しては、意思決定のための明快な手段が必要になる。その手段が「品質工学」である。本稿では、品質工学の思想/哲学、使用する道具と使い方、そして品質工学を活用することで得られる効果などについてまとめる。
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幕開け迫る「45nm時代」
多くのIC設計者にとって、45nmのプロセスノードが現実のものとなる日が近づいている。45nmプロセスでは、90nm/65nmプロセスから何が変わるのか。IC設計者は新たに何を学べばよいのか。ファウンドリ、EDAベンダーの動向を基に、45nmプロセスにおける課題を浮き彫りにしたい。
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VE活用のポイントをつかむ
設計者にとって、製品のコストを削減することは大きな責務である。しかし、コスト削減の取り組みは、1つの確立された方法論にのっとって行わなければ、効率良く、確実に成果を挙げることはできない。この課題を解決するものとして知られているのが、VE(価値工学)である。本稿では、このVEを製品開発に適用する上でポイントとなる事柄を紹介する。
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どう選ぶ?SoCの製造プロセス
SoCの製造にどのプロセスを用いればよいのか——一昔前であれば、この問いに対する答えを出すのは、さほど難しいことではなかった。しかし、多様化するトランジスタ技術を利用したさまざまな回路ブロックがSoCの構成要素になり、またプロセスの微細化にかかわる常識が従来とは異なるものとなった結果、この選定は一筋縄ではいかない複雑なものとなった。本稿では、さまざまなトレードオフ要因によって複雑化したこの選定作業の現状を整理したい。