レクロイ・ジャパンは2009年1月、4GHz～30GHzまでの帯域に対応したデジタルオシロスコープ製品群「WaveMaster8Ziシリーズ」を発表した（写真1）。サンプリング速度は、最大80ギガサ…

2009年1月6日 [計測/検査装置] [Misc.]

[オシロスコープ] [アナライザ] [LeCroy] [レクロイ] [シリアルデータ] [WaveMaster8Zi] [SDA 8Zi] [DDA 8Zi]

レクロイ・ジャパンは2008年7月、同社従来品と比較してデータ処理速度やデバッグ/解析能力を高めたデジタルオシロスコープ「WavePro700Zi」シリーズを発売した。　WavePro700Ziシリ…

2008年7月2日 [計測/検査装置] [Misc.]

[オシロスコープ] [アナライザ] [LeCroy] [レクロイ] [シリアルデータ] [ディスクドライブ] [WavePro700Zi] [SDA700Zi] [TriggerScan] [WaveScan]

WavePro715Zi、WavePro760Zi、ほか

2008年8月号 [計測/検査装置]

[オシロスコープ] [アナライザ] [LeCroy] [レクロイ] [シリアルデータ] [ディスクドライブ] [WavePro700Zi] [SDA700Zi] [TriggerScan] [WaveScan]

TDR測定は、ケーブルやコネクタ、プリント基板、LSIパッケージなどの検証やトラブルシューティングに用いられている。これを利用することによって、伝送される信号のシグナルインテグリティを保証することが可能になる。本稿では、まずTDR測定の歴史と基本原理を押さえた上で、それを利用するメリットや最新の測定環境について解説を加える。

2007年12月号 [計測/検査装置]

[Agilent] [TDT] [TDR] [Tektronix] [LeCroy] [シグナルインテグリティ] [特性インピーダンス] [Picosecond] [サンプリングオシロスコープ] [時間領域] [周波数領域] [Spirent Communications]